10月27日～29日，2011中国国际纳米技术产业发展论坛暨纳米技术产品展在苏州国际博览中心举行。
    昆山光微电子有限公司参加了此次传感器与MEMS技术产业化专题产品展，首次展示了本公司研发出的半导体设计与故障热分析系统（热成像显微镜）。
    该产品能够测量并显示电子器件或电路板的表面温度分布，适用于IC行业裸芯片、集成电路的热点和短路故障检测、元件和电路板上缺陷查找、MEMS热成像分析等，该产品配有功能强大的热分析软件，可支持多点温度数据的采集、存储和实时显示，并集成了电源及温度控制等功能，可以满足不同用户的实际需求，为他们提供一种快速探测热点和热梯度分析的有效手段。
    展会期间应客户的要求，对该公司的一款手机充电器芯片发热情况进行了实际测试，取得了满意的测试结果，多家MEMS芯片设计及封装厂家对该产品表示出了极大的兴趣，本次展出起到了良好的宣传效果。